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產(chǎn)品詳細(xì)頁貴金屬檢測儀
- 產(chǎn)品型號:EXF-9500
- 更新時(shí)間:2016-11-09
- 產(chǎn)品介紹:在貴金屬檢測領(lǐng)域,傳統(tǒng)的分析方法如試金石法、灰吹法、火試金法等都屬于破壞性檢測,具有消耗性和危險(xiǎn)性,且樣品的制備過程耗時(shí)更長。而X射線熒光光譜法的技術(shù)相對成熟,可以達(dá)到即時(shí)分析,無損檢測,不需要任何耗材,并且檢測精度可以達(dá)到小數(shù)點(diǎn)后四位數(shù),是我國普及型貴金屬檢測技術(shù)的發(fā)展方向。
- 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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產(chǎn)品介紹
一、前言
近年來,隨著人們消費(fèi)意識的不斷提升,人們對珠寶首飾的質(zhì)量及真假越來越重視,然而社會(huì)上“假珠寶”、“假黃金”等不良現(xiàn)象時(shí)常發(fā)生,使珠寶首飾商家與消費(fèi)者之間的信任危機(jī)越來越突出,珠寶首飾的檢測鑒定也越來越受到商家及消費(fèi)者的關(guān)注。西凡科技積極響應(yīng)市場需求,結(jié)合多年的貴金屬檢測技術(shù)和經(jīng)驗(yàn),自主研發(fā)生產(chǎn)出了一系列X射線熒光光譜檢測儀,可以幫助珠寶首飾商家規(guī)避交易風(fēng)險(xiǎn),提升自身競爭力和社會(huì)形象,從而帶來更多的營業(yè)收入。
二、解決方案
zuijia的金銀首飾無損檢測方法
在貴金屬檢測領(lǐng)域,傳統(tǒng)的分析方法如試金石法、灰吹法、火試金法等都屬于破壞性檢測,具有消耗性和危險(xiǎn)性,且樣品的制備過程耗時(shí)更長。而X射線熒光光譜法的技術(shù)相對成熟,可以達(dá)到即時(shí)分析,無損檢測,不需要任何耗材,并且檢測精度可以達(dá)到小數(shù)點(diǎn)后四位數(shù),是我國普及型貴金屬檢測技術(shù)的發(fā)展方向。
X射線熒光光譜法(XRF)的工作原理是利用X射線激發(fā)被測物體表面,使得其表面原子發(fā)生能級躍遷,利用探測器接收到X射線,然后通過能譜圖對比分析出元素成份。
性能特點(diǎn)
無損:無損檢測,不需要任何耗材
精準(zhǔn):美國進(jìn)口Si-PIN探測器,對所有元素均能精準(zhǔn)檢測
便捷:集成工業(yè)計(jì)算機(jī),雙觸摸屏顯示設(shè)計(jì),操作流暢便捷
快速:3秒內(nèi)可對樣品定性識別,60秒內(nèi)可得出測試結(jié)果
直觀:高清晰圖形即時(shí)顯示,檢測結(jié)果直觀明了
安全:加裝防輻射裝置,主動(dòng)保護(hù)操作人員安全
技術(shù)參數(shù)
設(shè)備原理:X熒光能量色散
元素分析:全元素
檢出限:100ppm(zuijia基體效應(yīng))
測量精度:±10PPM~0.1%
擴(kuò)展不確定度:≤0.19%
鍍層測量:鍍層厚度范圍<30um
X射線源:Mo靶的X射線光管 風(fēng)冷(無輻射)
探測器:Si-PIN探測器(美國進(jìn)口)
分辨率:145Kev±5
攝像頭:高清晰攝像定位系統(tǒng)
軟件:菜單式軟件,帶硬件參數(shù)調(diào)整和數(shù)據(jù)評估及計(jì)算
高壓器:0~50Kv(進(jìn)口)
溫度:-11~46℃
電壓:100~127V或220~240V,50/60Hz
zui大功率:144W
主體結(jié)構(gòu):高強(qiáng)度金屬支架+工程塑料外殼
重量:33公斤
尺寸:670*400*330mm
標(biāo)準(zhǔn)配置
主動(dòng)式射線保護(hù)
高壓過壓保護(hù)
光管過熱保護(hù)
全局故障診斷
升降壓預(yù)啟動(dòng)
擴(kuò)展屏(3.2/4.3)
擴(kuò)展線材及輔助支架
我們的服務(wù)
從售前、售中到售后,為客戶提供一條龍的周到服務(wù)。
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2、操作培訓(xùn):為客戶提供完整的產(chǎn)品操作手冊,并通過線上或者上門的方式為客戶提供安裝指導(dǎo)和操作培訓(xùn)。
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5、升級服務(wù):終身為客戶提供免費(fèi)的軟件升級服務(wù)。
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