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- XRF-D7鍍層厚度分析儀
X熒光光譜鍍層測(cè)厚儀,型號(hào):XRF-D7,標(biāo)配美國進(jìn)口新一代SI-P探測(cè)儀,測(cè)試范圍:硫S-鈾U.鍍層分析厚度范圍:0.0035um--40um。
- 型號(hào):XRF-D7
- 更新日期:2015-09-21 ¥119000
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- XRF-D8鍍層厚度分析儀
X熒光光譜鍍層測(cè)厚儀,型號(hào):XRF-D8,標(biāo)配美國進(jìn)口SDD探測(cè)器,測(cè)試范圍:鎂Mg-鈾U.鍍層分析厚度范圍:0.0035um--40um。
- 型號(hào):XRF-D8
- 更新日期:2015-09-21 ¥169000
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- XRF-9500鍍層厚度分析儀
目前常用的鍍層檢測(cè)方法主要有楔切法、光截法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱重法、X射線熒光光譜法等。前五種方法要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面,是屬于有損檢測(cè),測(cè)量手段繁瑣,速度慢。而X射線熒光光譜法的技術(shù)相對(duì)成熟,可以達(dá)到即時(shí)分析,無損檢測(cè),不需要任何耗材,并且檢測(cè)精度可以達(dá)到小數(shù)點(diǎn)后四位數(shù),是我國普及型貴金屬檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展方向。西凡科技生產(chǎn)的鍍層檢測(cè)儀使用的就是X射線熒光光譜法這一*的檢測(cè)技術(shù)。
- 型號(hào):XRF-9500
- 更新日期:2015-11-07 ¥129000
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- XRF-D7金屬鍍層厚度分析儀
金屬鍍層厚度分析儀標(biāo)配美國進(jìn)口新一代SI-P探測(cè)儀,測(cè)試范圍:硫S-鈾U.鍍層分析厚度范圍:0.0035um--40um。
- 型號(hào):XRF-D7
- 更新日期:2016-11-09 ¥面議